職務内容 【職務内容】

■評価システム製品本部 光学応用システム設計部にて半導体ウェーハ検査用の光学式検査装置における既存装置の電気設計をお任せします。

＜具体的な設計業務＞

装置を動作制御するための電気システム設計、電源、制御基板設計、装置内配線設計をご担当いただきます。



●変更の範囲

会社の定める業務



【担当装置例】

・暗視野式ウェーハ欠陥検査装置 DI4600

・日立暗視野式ウェーハ欠陥検査装置　DI2800



◆ウェーハ表面検査装置（DIシリーズ）◆

パターン付きシリコンウェーハ上に存在する異物や欠陥を検査する装置です。レーザーを当てて散乱光を検知し、ウェーハ上にある異物（ごみ）や様々な欠陥（段差等）を高感度かつ高速に検査します。

当社は半導体検査装置において電子線やレーザーなど光学モジュールを使用した精密な表面検査技術を持っており、当部署ではこのうち特に光学のコア技術をもとにした次世代検査装置の開発を担っています。

光を使用することによりスピーディな検査が可能となるため、半導体製造工程においてなくてはならない装置の一つとなっています。



【期待すること】

■半導体ウェーハ検査装置の事業を拡大・成長させるためには、顧客の情報や要望を正確かつスピーディに掴み、今後どのような機能・装置が必要になるのかといったR&Dの方向性を明確化した上で、それをモノ・コトとして実現していくことが重要だと考えています。

そのパフォーマンスの高さにより当社の技術進歩に貢献していただき、将来的には設計業務を取り纏める管理職として技術開発・製品開発などにより組織を牽引する存在へと成長していただきたいと考えています。



【企業・仕事の魅力】

■市場性が極めて高く、技術の進化スピードが早い半導体業界においてシェアを伸長している当社において、高機能・高精度が求められる最先端技術を学びながら、さらなる技術開発を追求することができます。
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