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⏰ Full-time

光学設計(光学検査装置)/茨城勤務【N325】〇

日立ハイテク
Location 📍 Japan, Japan
Posted 📅 June 13, 2026
Work Type ⏰ Full-time

Position Overview

職務内容 【職務内容】

■評価システム製品本部 光学応用システム設計部にて光学設計業務をお任せします。

具体的には、半導体検査装置における光学機器の光学設計開発業務をご担当いただきます。

機械、電気、ソフトウェアの開発部隊とも連携しながら、レンズを初めとする光学素子の仕様検討から設計指示までをお任せします。

またご経験に応じて、光学シミュレーション等の活用、サプライヤと協力してのレーザー開発、レーザー照明光学系設計、検出光学系設計、自動焦点システム設計、波面制御技術開発、高速光変調素子開発等もお任せします。

将来的には設計業務を取り纏める管理職として技術開発・製品開発などにより組織を牽引する存在へと成長していただきたいと考えています。



●変更の範囲

会社の定める業務



【担当装置例】

■当社は半導体検査装置において電子線やレーザーなどを使用した精密な表面検査技術を持っており、当部署ではこのうち特に光学のコア技術をもとにした次世代検査装置の開発を担っています。

光を使用することによりスピーディな検査が可能となるため、半導体製造工程においてなくてはならない装置の一つとなっています。



◆暗視野式ウェーハ欠陥検査装置(DIシリーズ)◆

暗視野式ウェーハ欠陥検査装置 DI4600

日立暗視野式ウェーハ欠陥検査装置 DI2800

回路パターン付きシリコンウェーハ上に存在する異物や欠陥を検査する装置です。レーザーを当てて散乱光を検知し、ウェーハ上にある異物(ごみ)や様々な欠陥(パターン形成不良等)を高感度かつ高速に検査します。ラインセンサにて取得した2次元画像を処理し、正常パターンから欠陥のみを高精度に検出することができます。



◆ウェーハ表面検査装置(LSシリーズ)◆

ウェーハ表面検査装置 LSシリーズ

パターンのない鏡面シリコンウェーハ上に存在する異物や欠陥を検査する装置です。レーザーを当てて散乱光を検知し、パターンを形成する前のウェーハ上に...

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Job Details

Employment Type
Full-time
📊
Category
Other-General
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Work Arrangement
On-site
📍
Location
Japan, Japan